Difference between revisions of "Uniden Scanner Test Modes for the XT and P2 scanners"

Revision as of 09:45, 26 June 2021

Test name	Keys	BC346XT	BCD396XT	BCT15X	BCD996XT	BCD325P2	BCD996P2
Initialize Memory	2+9+Hold	X	X	X	X	X	X

@@ Line 9: / Line 9: @@
 |'''[[BCD996P2]]'''
 |-
-|Backlight Test
+|Initialize Memory
-|
+|2+9+Hold
-|
+|X
-|
+|X
-|
+|X
-|
+|X
-|
+|X
-|
+|X
 |-
-|Battery Save Tests
+|}
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|EEPROM Dump
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|Firmware Version
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|Frequency Bands Test
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|Frequency Step Tests
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|Initialize Memory (Documented) <sup>1</sup>
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|Initialize Memory
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|Key Touch Test
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|LCD Pixels Test <sup>2</sup>
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|Loads Test Frequencies in Memory
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|NWR-SAME Tests <sup>3</sup>
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|On-Air Cloning Test
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|RS232C Loopback Test
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|Scan Rate Test <sup>4</sup>
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|Systems Tests
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|Tone-Out Test <sup>5</sup>
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|
-|-
-|}
-; Notes
-# Erases Memory
-# Reverts to Key Touch Test
-# Very Loud! Use caution
-# Will Erase ALL Stored Systems
-# Will overwrite stored tone outs